Identificador |
BC003AW1634247 |
Fecha |
2024-09-10 10:00:00-03 |
Forma |
Presencial |
Lugar |
Oficina de Dirección Archivo Nacional de Chile, Miraflores N°50 |
Duración |
1 horas, 0 minutos |
Nombre completo | Calidad | Trabaja para | Representa a |
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Dirk Von Streit | Gestor de intereses | Dirk von Streit Schwenke |
Ninguna de las anteriores |
Con fecha 10 de septiembre de 2024, se llevó a cabo una reunión en la Dirección del Archivo Nacional, en la que participaron el Sr. Dirk Von Streit Schwenke, representante de la empresa SMA Scanners Alemania, y la directora del Archivo Nacional, Sra. Emma de Ramón.<br /> Durante el encuentro, el Sr. Von Streit Schwenke presentó una amplia gama de escáneres de alta tecnología, diseñados específicamente para optimizar los procesos de digitalización en sectores como archivos, bibliotecas y control de calidad. Los productos presentados incluyen escáneres de libros, tanto manuales como robóticos, escáneres de documentos de gran formato y escáneres de microfilm. Destacan por su alta resolución óptica, velocidad y precisión geométrica, lo que mejora significativamente la productividad y asegura una preservación a largo plazo de documentos valiosos.<br /> Además, se resaltó que algunos de estos escáneres incorporan tecnología de inteligencia artificial (IA), lo que optimiza la calidad del escaneo al corregir imágenes automáticamente y mejorar la eficiencia de los procesos. Esta tecnología es particularmente beneficiosa en la preservación de documentos históricos y culturales, permitiendo digitalizar grandes volúmenes de información con alta fidelidad.<br /> La directora del Archivo Nacional, Sra. Emma de Ramón, valoró la propuesta presentada y decidió enviar la información detallada al Sr. Mauricio Hernández, Coordinador de Desarrollo Tecnológico, para que realice un análisis más profundo de los productos. |