Audiencias - Año 2024 - Emma De Ramón

1. Información General

Identificador

BC003AW1634247

Fecha

2024-09-10 10:00:00-03

Forma

Presencial

Lugar

Oficina de Dirección Archivo Nacional de Chile, Miraflores N°50

Duración

1 horas, 0 minutos

2. Asistentes

Nombre completo Calidad Trabaja para Representa a
Dirk Von Streit Gestor de intereses Dirk von Streit Schwenke

3. Materias Tratadas

Ninguna de las anteriores

4. Especificación materia tratada

Con fecha 10 de septiembre de 2024, se llevó a cabo una reunión en la Dirección del Archivo Nacional, en la que participaron el Sr. Dirk Von Streit Schwenke, representante de la empresa SMA Scanners Alemania, y la directora del Archivo Nacional, Sra. Emma de Ramón.<br /> Durante el encuentro, el Sr. Von Streit Schwenke presentó una amplia gama de escáneres de alta tecnología, diseñados específicamente para optimizar los procesos de digitalización en sectores como archivos, bibliotecas y control de calidad. Los productos presentados incluyen escáneres de libros, tanto manuales como robóticos, escáneres de documentos de gran formato y escáneres de microfilm. Destacan por su alta resolución óptica, velocidad y precisión geométrica, lo que mejora significativamente la productividad y asegura una preservación a largo plazo de documentos valiosos.<br /> Además, se resaltó que algunos de estos escáneres incorporan tecnología de inteligencia artificial (IA), lo que optimiza la calidad del escaneo al corregir imágenes automáticamente y mejorar la eficiencia de los procesos. Esta tecnología es particularmente beneficiosa en la preservación de documentos históricos y culturales, permitiendo digitalizar grandes volúmenes de información con alta fidelidad.<br /> La directora del Archivo Nacional, Sra. Emma de Ramón, valoró la propuesta presentada y decidió enviar la información detallada al Sr. Mauricio Hernández, Coordinador de Desarrollo Tecnológico, para que realice un análisis más profundo de los productos.